半导体芯片裸片显微损伤缺陷分割数据集labelme格式4532张7类别

数据集格式labelme格式(不包含mask文件仅仅包含jpg图片和对应的json文件)图片数量(jpg文件个数)4532标注数量(json文件个数)4532标注类别数7标注类别名称:[huahen,keliwu,piqkeliwu,powuran,sezshaoshang,shikekuai,tucengbuliang]对应中文类别名[划痕, 颗粒物, PIQ颗粒物, PO污染, SEZ烧伤, 蚀刻块, 涂层不良]每个类别标注的框数huahen count 1613keliwu count 633piqkeliwu count 397powuran count 547sezshaoshang count 111shikekuai count 845tucengbuliang count 412总框数4558使用标注工具labelme5.5.0所在github仓库firc-dataset图片分辨率多分辨率图片,如224x224,742x576等标注规则对类别进行画多边形框polygon重要说明可以将数据集用labelme打开编辑json数据集需自己转成mask或者yolo格式或者coco格式作语义分割或者实例分割特别声明本数据集不对训练的模型或者权重文件精度作任何保证图片预览标注例子原图随机选16张图标注绘制结果labelme编辑图实例单张图片